IT之家 4 月 27 日消息，“中科院之声”公众号今日发文称，近日，中国科学院金属研究所团队开发出暗场电子层析成像新方法 DFET-Nano，实现了对纳米金属晶界的三维“透视”。简单来说，这就像给纳米晶粒作 CT 扫描。

团队利用透射电子显微镜，从不同角度为纳米晶粒拍摄大量暗场像照片，然后通过复杂的重构算法，将二维图像合成为高精度的三维立体模型。目前，该技术的空间分辨率已经达到 0.3 纳米。

IT之家从文中获悉，这种方法不仅重建了晶粒的外形，还能同步解析其晶体学取向。也就是说，研究人员不仅能“看见”晶粒长什么样，还能知道每个晶粒的晶界结构特征，从而精确计算出晶界的晶面指数和曲率。这些直观的三维证据，首次在实验中验证了理论物理学家提出的“受限晶体结构”特征。

这项研究就像一把钥匙，打开了纳米材料“黑箱”。借助它，科学家能在三维空间中直接观察和测量晶界变化，从而更透彻地理解纳米金属稳定机制，为未来设计更高性能、更稳定的纳米材料提供了新的表征手段。

参考

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